Kemudahan Penyelidikan

Berikut merupakan kemudahan penyelidikan yang terdapat di Jabatan. Penyelidik yang berminat untuk menggunakan kemudahan tersebut boleh lawati pautan peralatan-peralatan yang berkenaan.

• UV/VIS/NIR Spectrophotometer
• High Surface Stylus Profilometer
• Photoluminescence Spectrometer (PL)
• DC and RF Magnetron Sputtering System
• AC Susceptometer (ACS)
• X-Ray Fluorescence (XRF)
• Electron Spin Resonance System (ESR)
• Micro Flash Thermal Conductivity Measurement System (LFA)
• X-Ray Diffraction (XRD)
• Vibrating Sample Magnetometer (VSM)
• Dynamic Mechanical Analyzer (DMA)
• Atomic Force Microscopy (AFM)
• Litesizer 500 / UltraPYC 5000.

Pautan untuk membuat tempahan slot: 

• Vibrating Sample Magnetometer (VSM)
• UV-VIS NIR Spectrophotometer
• Atomic Force Microscopy (AFM)  
• X-RAY Diffraction (XRD) 
• Photoluminescence Spectrometer (PL) 
• X-Ray Fluorescence (XRF) 
• Electron Spin Resonance System (ESR)
• Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS)
• RF and DC Magnetron Sputtering System

Kemaskini:: 31/07/2023 [amira.hamzah]